一、BM-20 儀器基礎說明AND 愛安德 BM-20 微型電子天平，多用于實驗室微量樣品稱量，量程與分辨力適配濾膜、微小粉末等微量試樣稱重。設備傳感器響應速度快，讀數穩定，結構緊湊，占用實驗臺空間小，廣泛應用材料檢測、半導體微量試樣稱重場景，操作簡單，適配各類實驗室常規微量稱量作業。

二、校準前準備工作正式校準前，將天平放置在水平穩固防震臺，調平水平泡，確認環境無強氣流、震動、陽光直射。接通電源，按照要求充分預熱儀器，清除秤盤上雜物灰塵，確認防風罩關閉。準備配套標準砝碼，砝碼提前放置在實驗室環境恒溫，避免溫差帶來稱量偏差。

三、天平校準操作步驟開機后等待儀器自檢完成，進入稱重界面，找到校準功能入口，啟動校準程序。按照屏幕提示，清空秤盤，等待零點穩定。當儀器提示加載砝碼，將標準砝碼輕放于秤盤中心，關閉防風罩，等待讀數穩定。儀器自動完成校準計算，提示校準成功后，取下砝碼，回到稱量界面。校準完成后，使用砝碼復測，驗證稱量結果準確性。

四、稱量操作與日常維護微量樣品稱量時動作輕柔，避免氣流擾動，樣品盡量放置秤盤中心。實驗結束及時清理秤盤，防止樣品殘留腐蝕。定期重復校準，溫濕度變化大、儀器移動后，必須重新校準。遇到讀數不穩、跳數等故障，停止使用，排查環境與設備狀態，保障稱量穩定。